X射线荧光分析仪

1.当测量痕量成分时，由X射线管的连续X射线产生的散射线产生大的背景，这使得难以观察目标峰。为了减少或消除散射X射线如背景和特征线对高灵敏度分析的影响，荧光分析仪配备了四种自动可切换滤光片，有效减少背景和散射X射线的干扰。
最敏感的辐射进一步增加了S / N比，允许更灵敏的微量分析。 2.由X射线管的连续X射线产生的散射光线将产生大的背景。
该软件可以自动过滤背景对分析结果的干扰，从而确保快速准确地分析任何塑料样品。 3.当一些元素的电子从高电平移动到低电平时，释放的能量将使光谱的峰值在此时重叠，导致峰值重叠。
SCIENSCOPE自行开发的软件可自动剥离重叠峰，以确保元素分析的正确性。 4.逃逸峰：由于使用Si针半导体探测器，当X射线荧光通过探测器时，如果元素的含量高（能量相应地更高），则它被Si吸收。
概率越大。此时，在光谱中，产生峰值，其中从Si能量值中减去元素的能量值，并且峰值是逃逸峰值。
5.在电压不稳定的情况下，可以自动跟踪和补偿扫描频谱的跟踪。

家用电器，电子产品，玩具，休闲和运动器材，自动售货机等。

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